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WTW
光學溶氧電極 FDO
FDO 700 IQ
 
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FDO—Fluorescence D.O.螢光溶氧測量法

不再需要麻煩的極化與校正工作

 

WTW FDO克服了其他廠商光學溶氧電極的三個技術問題

   (a) 薄膜受水沖擊造成電極測值飄移不穩

   (b) 高能量的藍光造成電極薄膜染劑受損

   (c) 氣泡對電極測值之影響

 

特性:

■不需費時的極化時間及麻煩的溶氧電極校正工作

■光學量測法,比傳統電化學法更為穩定可靠

■每一個上蓋出廠時都已校正,校正記錄存於其晶片上,約可使用兩年

■具有相同光徑的參考光源,當光學元件老化時,可適時做補償調整

■使用較低能量的綠光做為激發光源,可避免薄膜感應端的螢光染劑退色,使薄膜壽命有兩年之久

■測量薄膜前端具有45 度夾角,可避免氣泡在感測端停留造成誤差

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